The Statistical Investigation of the Dielectric Break Down (Part II) : On the Variation of the Dielectric Break Down Measurement for the Various Thickness of the Plate Insulator
抄録
Using the thin plate insulator, I investígate the influence of the difference of thickness upon the dielectric break down. And I offer the data in the case, the characteristics of insulater varry gradually, as the ultravioletray deterioration.
電気絶縁材料に紫外線照射の様な，序々に而も極く僅かづつの効果を及ぼす様な処理をほどこして，其の特性への効果を測定する場合，一般的には試料を多数作り測定値を統計的に処理して結果を求めるのが最も合理的である。
殊に測定すべき特性が絶縁破壊値の様な非決定論的な変動を含む場合は尚更その心要がある。
従って板状の試料を用いる場合には同じ厚さの試料を多数準備しなければならない。
然し全く同じ厚さの試料を数百枚も得る事は全く不可能で，更に厚さの測定の誤差も入る事を考えに入れねばならない。
本報に於ては厚さの微小差が絶縁耐力に如何に影響するかを，厚さの測定の誤差をも含めて統計的に求め，外部から加えられる処理（紫外線照射の様な）の効果と厚さの微小差による効果とを分離して検討出来る様にした。
絶縁破壊の統計学的研究(第ニ報) : 薄板状絶縁物の微小差に対する破壊値の変動について
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